能量色散X射线荧光(EDXRF)

为了提供卓越的分析性能和可靠性，EDXRF测量头组件源自已建立的NEX系列高分辨率台式仪器。凭借其成熟的技术，Rigaku NEX LS可对从铝(Al)到铀(U)的元素进行快速、无损的多元素分析，包括涂层重量、涂层厚度和/或成分。

涂层厚度和成分

Rigaku NEX LS是专为服务网络和线圈应用，有能力执行多元素组成，涂层重量或涂层厚度。测量头安装在刚性梁上，并配有位于滚轮上方的线性移动机构，因此测量头至表面的距离是恒定的。在需要的地方，涂层的元素组成被直接测量。相反，涂层重量(或涂层厚度)可以直接测量(其中元素计数率与厚度成比例)或通过测量一些基底元素的衰减间接测量(其中计数率与厚度负相关)。

硅树脂防粘涂层

台式EDXRF光谱仪长期以来一直是防粘涂层、转换器、真空成型塑料制造商和其他使用硅油作为阻挡层、防粘涂层或去嵌套剂的行业所熟悉的技术。实时扫描，更严格的过程控制公差，将EDXRF硅涂层分析技术推向了一个新的高度。硅涂层应用于塑料和纸质基材，以改变产品(如标签)或包装的释放特性。如果施加的硅氧烷太少，或者如果纤维网的某些区域缺少硅氧烷涂层，则在剥离应用中粘合剂的剥离性能将受到不利影响，或者真空成型塑料的脱模特性将受到损害，从而导致制造和其它下游工艺中的产品不合格或中断。如果使用太多的硅树脂，制造的卷的成本会增加，降低利润，并且在某些情况下会影响最终产品的接受度和性能。